| Tiếp nhận wafer | Đã đối soát đúng mã sản phẩm, số lô wafer (wafer/lot ID), số lượng, phiên bản thiết kế (revision) và phạm vi dịch vụ gia công chưa? | Mã khách hàng/nội bộ, wafer/lot ID, bản đồ wafer (wafer map nếu có), thông số kỹ thuật đầu vào và biên bản tiếp nhận. |
| Đo kiểm & phân loại wafer (Wafer probe / sort) | Die nào đạt, die nào bị loại và kết quả kiểm tra thuộc chương trình đo (test program) nào? | Wafer ID, tọa độ die, probe card, tester, test program/version, kết quả và BIN. |
| Mài mỏng wafer (Backgrind / Thinning) | Độ dày và tình trạng wafer có đạt điều kiện cho bước sau không? | Wafer ID, tiêu chuẩn độ dày (thickness spec), máy mài / công thức gia công (recipe), thời gian xử lý, dữ liệu đo độ dày thực tế và biên bản ghi nhận ngoại lệ (nếu có). |
| Cắt tách die (Dicing) | Die được tách từ wafer nào; đầu vào–đầu ra và lượng phế phẩm hao hụt (scrap) có đối soát khớp nhau không?? | Bản đồ wafer (wafer map), tọa độ die, thiết bị/chương trình cắt, số lượng hoàn tất, lượng phế phẩm (scrap) và kết quả kiểm tra ngoại quan (inspection). |
| Gắn die (Die attach) | Đúng die, vật liệu, hướng đặt và điều kiện gắn chưa? | Mã die/lot ID, mã lô khung dẫn (leadframe) hoặc đế đỡ (substrate), mã lô keo dán (adhesive), thiết bị, recipe gắn và kết quả kiểm tra lực bám/vị trí. |
| Nối dây vi mạch / liên kết mạch (Wire bond / Interconnect) | Kết nối được thực hiện bằng máy và chương trình nào, có đạt tiêu chuẩn không? | Thiết bị hàn dây (bonder), chương trình/phiên bản, vật liệu dây dẫn (wire) hoặc điểm hàn (bump), các thông số vận hành cốt lõi và kết quả kiểm tra kéo-bóc mối hàn. |
| Đúc vỏ & Khắc mã (Molding & Marking) | Lô hợp chất đúc (compound), chu trình đóng rắn nhiệt (cure), nội dung khắc laser và nhận diện gói sản phẩm đã đúng quy định chưa? | Lô hợp chất đúc (molding compound lot), thiết bị/recipe, thông số thời gian - nhiệt độ sấy (cure), nội dung khắc laser, mã lô đóng gói (package lot) và kết quả kiểm tra ngoại quan. |
| Cắt dải / Uốn định hình (Singulation / Trim-and-form) | Dải mạch (strip) hoặc khung dẫn (leadframe) đã tách thành từng con chip đơn lẻ nào; số lượng và mã định danh có còn truy xuất đối soát được không? | Mã strip/leadframe ID, máy/chương trình dập-cắt, mã chip đơn lẻ (package ID) hoặc bảng đối soát vị trí (unit mapping), sản lượng đầu vào–đầu ra, phế phẩm (scrap) và biên bản kiểm tra. |
| Kiểm thử thành phẩm & Thử rà nhiệt (Package test / Burn-in) | Kết quả thuộc lượt test nào; các lượt đo kiểm lại (retest) hoặc chuyển nhóm phân loại (BIN change) đã có phê duyệt hợp lệ chưa? | Máy đo/thiết bị nạp (tester/handler), chương trình/phiên bản test, kết quả đo, mã BIN, lịch sử retest, số lượng và quyết định xử lý chất lượng (disposition). Nếu có burn-in: biểu đồ nhiệt độ, điện áp, thời lượng và mã bo mạch thử (burn-in board ID) theo kế hoạch kiểm soát. |
| Kiểm tra xuất xưởng & Bàn giao (Final inspection & Shipment) | Số lượng thành phẩm đủ điều kiện xuất xưởng và hồ sơ đi kèm có khớp tuyệt đối với cam kết đơn hàng không? | Số lượng duyệt xuất (released quantity), nhãn mác / mã ngày đóng gói (date code), biên bản đóng khay (tray) hoặc đóng cuộn (tape-and-reel), chứng chỉ chất lượng xuất xưởng (CoC/báo cáo) và dữ liệu liên kết lô sản xuất với lô xuất hàng (mapping lot–shipment). |